|
|
11春学期《现代材料测试技术》在线作业二
! H' z& q& `) M一,单选题
& i+ A" Z" f |' l& F1. 样品微区成分分析手段包括( ) 。
% k! q* E( g3 `" J/ x6 @A.
+ e2 x+ `3 a$ AWDS、EDS 和XRD $ Z- I5 U9 x; k, V! X0 {0 W' R
B. 6 Q8 z! s, ^' x6 `: ~$ k
WDS、EDS和EPMA , _( [7 @% f: ?( _% n
C.
; _! O: [2 }6 v, Z( ?' A ~- I7 KTEM、WDS和XRD. v ?/ ^. E0 x: m
6 f7 Z5 t/ o0 A1 @ c2. 塑料一级复型的分辨率一般只能达到（ ）。- s2 a3 N* e8 H* g2 }
8 F0 u/ a3 g/ `2 W- L) e3 e, |
A. : R2 h @8 {5 Z1 p7 e2 V8 b% [0 C
5nm左右
! s5 I- A: N' I7 PB. 5 O% i% g# B% Z$ b) b' t8 V
10nm左右
1 [ g% W& ]7 c& w8 V& @C.
1 \. }: Q2 {5 g. o6 z$ U* @20nm左右
, k; p( _5 L, u% i( \/ d, l( [2 V' z0 V8 F/ |! ^ i
3. 入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做（ ）。
/ a8 `) x7 F6 g# W: o( T* C
% o! [: F( c9 }7 p" X. W2 U/ @A. F9 v" ~4 s1 u* ?: d- }% f
衍射衬度
& Q5 k# _, j, pB.
5 u' P3 L6 B# I+ l- L" B消光距离 2 g; E7 ?/ W( w# n
C.
# ~* D; K8 @. P/ Z偏离矢量1 A) n/ C# T% v7 ?
# v; b* V) V6 J4 T* |2 b9 T4. 当X射线将某物质原子的K层电子打出后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生( )。5 j/ `/ N- O% f0 l0 X# l
A.
- B, s! F3 e, \# z, z特征X射线 4 t) i3 ]* |+ V8 \: c
B.
. D3 i* h P7 I背反射电子 0 I# K# t- ~& C
C. 9 P m+ O! o9 ]! `% _- E) X4 e
俄歇电子7 ]6 r0 }9 M+ l. d' l
. d2 ?' x7 A- d8 W! E9 ~
5. 样品微区成分分析手段包括( ) 。
6 _8 _7 Z# {% ]' {# Z9 z8 |6 l$ UA. + ~. N. E' U7 C7 Z
WDS、EDS 和XRD - D x7 l I* [9 u7 k, f
B. % S9 W. J) z; Q* J
WDS、EDS和EPMA
/ U( Z: c8 z. L1 U5 [6 r- }! V# d( [$ ]C.
# m# ?( L# W$ g. n+ V5 k/ o& wTEM、WDS和XRD
: R1 V X# X7 ~. R
1 c5 ~! G' M" p0 r1 r6. 电子枪中给电子加速的称为（ ）。3 L" f! ? D9 J
. a: u* Z/ M8 f, z$ U' w9 y3 F
A.
1 t. B- Q9 ~+ d; ?) }4 _阳极
2 m$ o- I9 ~) _0 jB. q; \ G; a9 m) } V
阴极
8 P9 C* J1 {, u* W. ^C.
9 U' ]3 |6 e" B6 n/ s栅极6 M2 d# N9 I) k3 S2 I6 K
' u. x7 |# L) W/ a! ]
7. 由电磁透镜磁场中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的像差，称为（ ）。# s1 ^) `6 ~* t3 |- t; f
' Q0 V8 v) d: X" K4 G, Z' h$ t
A.
4 W4 }( a( U; B. R; h7 d, I, U3 M球差
8 w! y, p) G2 m7 IB. 7 g! W# G7 O0 ~9 o4 K/ x
像散 . v& y! d: b+ v6 Y d
C. $ H3 A2 }$ e0 { v! N: _) U2 D
色差1 r2 T6 ^6 x( M' T& ^
( ?) P x+ Z2 w' l5 U8. 对样品进行表面形貌分析时应使用（ ）。
/ f( e. c: q1 J. qA.
+ `. i @2 C" U9 H' Y; m0 AX射线衍射（XRD） * o" s( `$ q V7 E
B.
* Z" r. K$ A, f6 m& ~透射电镜（TEM） 8 s: B8 n' U( a
C.
8 d% S# [. I8 S5 e( @1 a扫描电镜（SEM）+ ]- p# _/ l- ?
/ K/ R, f$ I5 b8 x9. 通过透镜中心且与主轴垂直的平面叫做（ ）。' X1 Z6 x# b2 p0 s* z
; [! h y8 |. x
A.
. N7 c3 W* ?: p0 O2 R6 v焦平面 $ ` Z" t9 |. [3 X: q
B.
" ~4 C# G; J1 Z; ^透镜主平面 9 q: g1 e5 P! f# k+ c8 i, O8 v( R
C. . j$ g0 P A$ e& t+ `( f' ~
像平面 v) W$ U H. G; ]- t- ]) [ @, H
; I& |) k: D5 m* O0 y& l10. 透射电镜的两种主要功能是检测（ ）。$ a, r* ^, g9 j
A. 表面形貌和晶体结构9 i1 O0 R8 e0 d9 f
B. 内部组织和晶体结构
! U* A0 _) h: `+ qC. 表面形貌和内部组织1 j/ W n, B- t: c/ q Y* |
! @4 S# P z! f8 r! K二,判断题6 R0 S/ |9 g) c7 }( ?4 C* K
1. 体心立方点阵的系统消光规律是当 H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。9 k8 I8 y0 G: p8 g& x
A. 错误$ ~ z a4 L: g2 |4 w
B. 正确
$ H2 _4 p, `) P: m- w# f6 O o0 c8 n# ]; B* s* m
2. 晶体的电子衍射斑点是相应晶体倒易点阵二维截面的放大象。# w$ a6 a# J/ w
A. 错误' t5 B, ~: Y7 j$ L7 { f/ x
B. 正确8 E D6 y0 R; J6 i$ E
f" v& F. o9 `! |0 h; f" X' @3. 透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。" _( P, ^% m+ W7 j! @* w( p: B. o
A. 错误
' l7 E/ I! @* H) }* m% CB. 正确
2 y& z; ^& x! F
4 K* u4 Q) [$ B, ?5 i4. 透射电镜图像的衬度与样品成分无关。. O. |0 n, u" T9 a7 k0 w
A. 错误* o8 }' U( ~$ z3 B* B: G8 g- y
B. 正确
# L l/ w$ _4 f" `( V/ u2 ]) r* l8 r/ d1 F6 w1 y
5. 扫描电镜二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。
" R9 k- g: E2 P* a/ l2 t! YA. 错误
( G; d6 R3 X* g5 P! ]" o* lB. 正确
4 D* h, B5 ?9 E* J$ V. X" t# U9 m' t. w- p7 E
6. 面心点阵的系统消光规律是 H+k+L 为偶数时出现反射，而 H+K+L 为奇数不出现反射。# @5 t% ]. H" X: }0 N( n2 `- j
A. 错误
% i+ e' ?: N! \1 i* |% ]: }B. 正确
2 Z! q) d, r; ]1 x* m- { V; ]* k# U" Y- p3 b4 o& y5 \
7. 扫描电镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。3 k$ U( q0 M0 j( D3 q* s2 T+ ]+ v/ n
A. 错误( d5 M$ E& B8 | U, A
B. 正确' U X$ |5 @* W* t! N# A0 K- m
1 S; e' ]! F- I1 T) P
8. 透镜的数值孔径与折射率有关。
) [& J" |" T, x8 xA. 错误
2 T; H+ c% E! b# y. WB. 正确- k; {. A1 e2 i6 o2 m: S
* {$ }% j, G4 l. N# @, K [0 W9. 背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。9 S! h- r- F8 [% o; E6 L2 n
A. 错误
5 S1 }; \; a9 mB. 正确
$ R+ [. W1 C% E2 y% _$ Y5 P! N% c& y6 i8 ~7 K$ e4 }
10. 透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。
( ^! d- E1 a8 n( U4 R f3 f5 IA. 错误
+ N1 u; ~+ P1 X& V/ j, G' oB. 正确 |
|
IP卡
狗仔卡
发表于 2011-5-2 07:30:04
微信登陆 
提升卡
置顶卡
沉默卡
喧嚣卡
变色卡
显身卡
客服一
