|
东 北 大 学 继 续 教 育 学 院 w, w, f' b. [
低压保护电器可靠性理论及其应用 试 卷(作业考核 线下) A 卷(共 4 页) ' }/ d# V5 i/ Y
总分 题号 一 二 三 四 五 六 七 八 九 十
; C4 C# p; d* `; F/ X8 ?2 y5 e 得分 3 u$ m5 A2 }5 ]/ C. L6 e0 B6 A
注:请您单面打印,使用黑色或蓝色笔,手写完成作业。杜绝打印,抄袭作业。0 q+ @5 ~4 u$ d* h% f/ a
一、判断题(20分,每题2分)$ l3 I' K3 f" z) I4 V1 P# L
1. 偶然失效期内产品的失效是随机的。( )& w7 e* E. n" _4 J- x7 s
2. 中位寿命:产品可靠度等于中间时的可靠寿命( )" q2 g$ u- P- W$ A; ]
3. 当产品寿命服从单参数指数分布时,其失效率与平均寿命互为倒数( )
9 V4 M1 e" a. G* d! a: `7 q4. 根据可接受水平 和拒收概率 值来确定抽样检查方案重视了生产者风险,未考虑使用者风险 ( )
, h0 l7 E' r8 r9 |8 u6 A5.本应该判为合格的产品而被误判为不合格的这类判断错误称为第一类错误。( )" {0 k6 }7 q5 C7 m
6. 可靠性验证试验:指验证设备可靠性特征值是否符合规定的可靠性要求的试 验,通常是订货方接收产品的条件之一。( )% H$ @& u4 G; N9 h% v1 S
7.降额使用是为改善可靠性而有计划地减轻材料或元器件的内部应力,降额系数越大越好( )。
. r# u. x: X5 v# M2 n% ~% _8. 质量保证体系的核心是提高产品质量。( )! {. s) }; h: ]
9. 失效分析是提高产品可靠性的直接途径。( )
& `/ I3 @# I% d4 C7 P5 G10.小型断路器操作失效率指标是针对拒动故障情况的。( )
& g, W0 h7 j5 V. n% b% M* i P" L二、单选题(20分,每题2分)
2 @+ j F* X& j0 F- n p7 y1.针对( )故障,小型断路器采用故障率λ的大小作为可靠性指标。+ F: `0 Y8 l3 d6 T0 p X# _7 n
A 误动 B 拒动 C 操作 D 复位
* R6 D, o% ~2 Q* H. ^2.对产品研究性阶段的失效,主要根据( )要素的影响来安排分析程序。
6 R, M5 P9 y; P/ R7 k A 生产 B 设计C 工艺 D 使用
0 H- {4 a/ h8 f; P2 Z# s3. 热过载保护继电器不能可靠的动作称为( )7 B, x8 ~" Y# @* S4 y" l7 ^ R" s
A 拒动 B 误动 C 操作故障 D 结构故障/ \% [0 [" l/ d0 R
4. ( )故障是指没有发生漏电故障时漏电保护器发生误动作而将电路切断。
V# {. P2 k9 J* E9 G, t8 W A 误动 B 拒动 C 操作 D 复位
/ R1 p ~+ K- q. Y5. 全面质量管理以( )为基础
7 m, e' c, h. B6 J A 顾客满意 B 质量要求 C 全员参与 D 增强组织能力
1 `1 ?5 v7 j$ c1 ? T6.假设一个产品是10个部件串联组成,寿命服从指数分布,若每个部件工作10000小时的可靠度为0.9,求产品工作到10000小时的可靠度( )。: a" U& b) a! c6 O& N
A 0.349 B 0.528 C 0.439 D 0.934% o( U4 f5 x% s1 M) O. H
7.已知标准正态分布的下侧分位数为0.5,则它对应的正态分布N(2,2)的下侧分位数为( )。" N, n0 v! b+ j2 t1 B J8 o! _
A. 0.5 B. 1 C. 2 D. 3
: F, D3 Z( I+ B: q {8.一批产品的失效密度函数服从一个单指数分布 ,则这批产品的失效率为( )
+ [) n6 g, h9 W A. 1 B. 2 C. 3 D. 4
( }& k& |3 g6 Y. T9. 被误判而拒收的概率叫( )! k3 d, Z h+ E
A. 可靠水平 B. 置信度C. 使用者风险率 D. 生产着风险率9 r+ ~: J5 O$ ]: t/ ^
10. 环境应力筛选试验是消除产品( )一个有效途径
7 U& p E" @, g4 d' s! [6 YA.早期故障 B.偶然故障 C.耗损故障 D.致命性故障
& C5 m8 n _+ z0 Q3 U; w4 T三、多选题(20分,每题2分). D' M6 B; g, ]- t3 s1 O3 Z
1. 小型断路器的主要故障模式( )* z) b5 I$ _; w# `, \
A 误动 B 拒动 C 操作 D 复位
3 |0 C. o2 M' [9 a6 }2.成功率区间估计包括( )
' o9 J/ x; N, v/ {8 {: |; }: ^A 单侧置信下限估计 B 单侧置信上限估计 & e& b, F6 `5 k0 {2 S
C 指数估计 D 双侧置信区间估计
4 J5 b# p5 X* h% G+ @3.现场试验优点( )
( ? E7 Q6 @0 ?7 iA 需要设备少 B 试验费用低 " d8 K, D- _7 z, _0 a3 ] S
C 结果具有再现性 D 更好地控制受试品的性能监测% H2 b2 Q# o9 V! R
4. 可修复产品的可靠性特征量主要有( )
1 U' X7 L) a9 N1 b A 可靠度 B 不可靠度、C 故障率、D 寿命标准离差。5 q6 f& Z, |+ k Q" D7 c7 N2 T
5.针对( )故障,漏电保护器采用保护成功率的高低作为可靠性指标。
5 t, X6 M7 f% y+ E A 误动 B 拒动 C 操作 D 复位' s5 I- ?& y8 s% m
6.低压断路器故障模式包括( )
2 x! H$ T4 D9 `. r# u# E A 误动 B 拒动 C 操作 D 复位
J- F5 S; I0 H& r7.失效分析方法可分为( )& |0 I( F. T* x: ?$ g
A非破坏性物理结构分析 B 特性参数分析 C 统计分析 D表面分析
9 D* Y- m; I) E) Q& Y8. 物理结构失效包括( )。
3 x' |" b; A( ~, g8 `% HA密封性差 B 结构松动 C动作不灵活 D线圈断线7 Z+ o3 I; d3 N
9.产品可靠性抽样检查包括:( )1 S. r" B+ Y9 v. V8 r4 V
A.质量抽样检查 B.失效率抽样检查
0 t8 U2 m) Q u. U1 ]2 i C. 平均寿命抽样检查 D. 可靠寿命抽样检查
0 \$ ^% @; s8 w6 h/ \+ \2 x10. 可靠性试验的主要作用是( ) ' ]7 F1 g4 N6 P8 _+ z
A.判断产品是否满足质量要求
3 d2 s* t5 n) v' S0 u B.判断产品是否满足可靠性定量要求 $ J6 f9 u3 ~6 K5 H1 s/ N, _
C.发现产品存在的缺陷,以便采取纠正措施,提高可靠性0 C2 x' M) |/ a5 d6 C
D.对不合格品进行隔离,保证不合格品不放行、不交付
9 a) e& ]/ g' S2 z+ u四、 简答题 (20分,每题5分)* E' Y! y# x4 b# a1 l) E, J; _
1. 什么是产品早期失效期?发生的特点和原因。8 \5 Y4 o" H& {/ j9 z1 g
) ^" K, ]) }5 r/ p+ I
: x) V& c( U& E6 B* w T
' `6 g5 U6 [ b. J [1 Y( C+ k+ q8 B+ o
% s$ v. Y4 M! `7 h4 @' t3 d: z: _- m7 W2 O
2.简述漏电保护器的三种故障模式。7 i7 `- t3 e) K
/ W- ^6 r3 h, V9 l, G+ |6 M
( w* E5 a' c; j$ U
( R9 \5 a d2 U3 ]
~ c6 C1 L0 G, X0 p! r
3 i1 M! H, ~- n+ }8 ^
9 a | f3 V# y2 f; x: Q& J3.简述工业PC机与一般商用PC机区别。
7 w! b) i7 k o, V# [# `
, p8 ^3 h2 G0 E' b4 I3 f, f6 i, i: Z8 G* J3 U C# k, L7 Y
1 d' I* U$ y* R3 b" k/ R* b/ `, l
r1 @- w+ p' f5 s- z# E/ h& v- O# s
' n1 i2 A4 `1 R2 `- t; ` |* O; F! {
4.什么是标准正态分布?其密度函数和累积分布函数表达形式。
5 D8 Z- ^: D& w; V9 [8 D& ]4 u H% \
k y; o5 d$ J( G. @
5 r' x4 b" T5 K
' r/ N% @( K! C2 Q7 h
9 e( X* b% q, ~3 {% G" L' |
1 G% ]. @ Z- M1 ~9 @五、综合题(20分,每题5分)
- c6 n8 ~% I1 P2 Y, K8 H% O* w1. 假定每个元器件可靠度都为0.99999,则有5个可靠性串联元件组成的系统,则系统可靠度R。
5 l% ^' F A5 K6 M* e( W
5 M& [2 T7 a- F; h0 u6 r
8 |; f/ ]' g) c3 P2 v2 w2 R7 C: F" h- n2 V) {) `5 c: t
2 y' t3 R8 k2 Y1 h9 z
9 X4 X' F( m! \# B) A* f8 w, J/ K$ Z1 m l) Z
1 T: e! w- V- _! ~' k3 Q( J( G1 |2 b# c a4 ^' x x3 I
, x9 w7 R) q' D% q: a; k/ m( C; L" k; @
; S, Y1 z9 r6 M: }" ]9 {
2. 一批产品,其总数为N=100000个,已知其不合格品率p=10%,如任抽两个产品,试求所抽两个产品均为不合格概率P(A)
/ f/ p6 _- n; M- ?) G& f) Q2 U1 f/ F% b$ G2 Y h+ x9 X
8 f8 O1 b5 k8 E
4 _& h# z# J/ H# H8 G4 c$ m) ?# [! G# ^
, D2 t Q7 Z3 g) M! E
1 g- C/ L" z. q @) y* P8 [$ p: }, F4 Z0 r) P0 J
/ K0 o g+ h. [ B$ _4 Y) B3 F; v
+ o- q8 j" U5 j9 h4 {$ J
' p8 }( W6 j C3 O1 s8 o
5 \' ^; O g" O5 D; X+ k' m" I* C! q( x. r! O* _
, p4 U1 a7 z' I k/ ?) N3 ]
3 系统可靠性框图如下所示:
% j, f7 ?' ~/ e+ W! p画出相应的故障树,写出其结构函数原型,并化为最小割集表达式
7 W- V3 b5 N9 e
* \9 t3 {8 r! @5 ^' z
+ s7 _3 r: F) y" N( l0 G4 A
) A3 n% `; [4 s$ ]( x8 ?$ f4 F0 u9 w4 _' E8 m. H
$ n! Q1 r i: R/ c( o% Y3 Z9 w: l0 `9 s/ }" d
0 D* @; {- ]8 s# ^* |# j1 D: b9 j
: b, ]. @2 y- M2 Z" d8 }: K0 h& H# H$ b8 E6 P L4 b ^& a
0 P; a p. ~9 Y( c
: c9 [6 m6 _8 \ ?) E+ C! q
; ^+ V' X- c8 ^
( O+ L9 J4 m- L6 [9 _: G4. 已知一批产品的累积失效分布函数 ,求这批产品的可靠度R(t),失效密度函数 ,平均寿命 。" o! e0 ~6 H- c
|
|